Материалы, похожие на работу «Микроскопия вчера, сегодня, завтра»

Содержание Содержание 1 1.ВВЕДЕНИЕ. 2 2.ОСНОВНАЯ ЧАСТЬ. 2 2.1 Что такое сканирующая зондовая микроскопия. 2 2.2 Современные методы исследований СЗМ. 5 ...
. Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
. Сканирующая силовая микроскопия (ССМ)...
Министерство общего и профессионального образования РФ Уральский государственный технический университет Кафедра Физической и Коллоидной Химии Реферат ...
Зонд сканирующего туннельного микроскопа приближается к поверхности подложки и практически погружается в адсорбированный слой.
Пока что в МТИ сосредоточились на том, чтобы научить своих роботов двигаться плавно и интегрировать в работу тончайшие острия сканирующих и атомно-силовых микроскопов....
Фуллерены — Реферат
Курсовая работа по "Материалам и компонентам электронной техники" на тему: Фуллерены Выполнил: Neur0_13[z_c0m] студент группы xxxx/x СПбГПУ, 2004 г ...
Для графита расстояние между атомами в узлах гексагональной сетки равно 0.142 нм, а между сетками (слоями) 0.335 нм.
Молекулу фуллерена, например, можно размещать на поверхности подложки заданным образом, используя сканирующий туннельный (СТМ) или атомный силовой (АСМ) микроскоп, и использовать ... ...
Нанотехнологии, наноматериалы, наноустройства Г. Г. Еленин Краткая справка об авторе: профессор факультета вычислительной математики и кибернетики ...
Создание сканирующих туннельных микроскопов, атомно-силовых микроскопов2 , магнитных силовых микроскопов, многоострийных систем для молекулярного дизайна, миниатюрных ...
Сканирующая туннельная микроскопия...
Содержание: Путь микроскопии 3 Предел микроскопии 5 Невидимые излучения 7 Электроны и электронная оптика 9 Электроны - волны!? 12 Устройство ...
12 Устройство электронного микроскопа 13 Объекты электронной микроскопии 15 Виды электронных микроскопов 17 Особенности работы с электронным микроскопом 21 Пути преодоления ...
Прибор основан на возбуждении так называемого характеристического рентгеновского излучения атомов малого участка поверхности - образца с помощью тонкого высокоскоростного ... ...
... образованию. [pic] Кафедра общей физики. Реферат на тему: "Дифракция электронов. Электронный микроскоп". Факультет: АВТ. Кафедра: АСУ. Группа: А
Когда на пороге XVII столетия был создан первый микроскоп, вряд ли кто-либо (и даже его изобретатель) мог представить будущие успехи и многочисленные области применения микроскопии ...
Прибор основан на возбуждении так называемого характеристического рентгеновского излучения атомов малого участка поверхности - образца с помощью тонкого высокоскоростного ... ...
Структура и адгезионные свойства отверждённых эпоксидных смол СОДЕРЖАНИЕ | Введение........................ ......... |2 | |1. Структура и свойства ...
Растровый электронный микроскоп (РЭМ), как и традиционный микроскоп, имеет линзовую систему, но функция этой системы состоит в том, чтобы получить пучок электронов предельно малого ...
... за интересующие нас макроскопические физические или механические свойства, зонд заставляют обегать (сканировать) заданную площадь объекта по заданной программе (движется луч по ... ...
... 1 таблиця, 6 джерел. Об`єктом дослідження є поверхня металевих та напівпровідникових матеріалів за допомогою скануючого електронного мікроскопа.
Електронні пучки одержали широке практичне застосування в приладах електронної мікроскопії.
Первинний електронний промінь (зонд) формується у вакуумному стовпчику (електронній гарматі) растрового електронного мікроскопа (мал.6)....
Дипломная работа на тему: Композиционные триботехнические материалы на основе олигомеров сшивающихся смол Выполнил Будько Юрий Анатольевич ...
При приближении зонда к поверхности образца (О) на расстояние порядка нескольких нанометров, амплитуда колебаний балки изменяется под влиянием молекулярных сил (отталкивания ...
По изменениям разницы сигналов судят об изменении амплитуды колебаний зонда и , следовательно, об изменении расстояния между сканирующим острием и исследуемой поверхностью....
Аннотация. В дипломном проекте рассмотрен электретный эффект в пленках фторопластата - 4 толщиной 10 мкм с односторонней металлизацией алюминием ...
В частности, в качестве источника электронного пучка часто применяют сканирующий микроскоп.
Локальный характер микропробоев в зазоре при термоэлектретировании является причиной неравномерного распределения зарядов по поверхности образца и недостаточной повторяемости ... ...
ЛИТОГРАФИЯ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ В ТЕХНОЛОГИИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ Реферат по НИРС Выполнил : Тимофеев А. гр. ФТМ-61 КАЛУЖСКИЙ ФИЛИАЛ МОСКОВСКОГО ...
4) микроскопический тест - при помощи сканирующего электронного микроскопа.
Из теории дифракции и практической микроскопии известно, что разрешение ограниченно длинной волны используемого излучения....
Министерство общего и профессионального образования РФ СЫКТЫВКАРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ Физический факультет Кафедра физики твердого тела ...
С помощью атомно-силовой микроскопии были получены снимки поверхности образцов каменной соли из Польши.
... наличия коллоидных выделений в синей соли и их размеры, полученные методом оптической спектроскопии, подтверждены прямым наблюдением поверхности сколов в атомно-силовом микроскопе....
Литография — Курсовая работа
ЛИТОГРАФИЯ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ В ТЕХНОЛОГИИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ Фотолитография. Введение. Оптическая литография объединяет в себе такие области науки, как ...
4) микроскопический тест - при помощи сканирующего электронного микроскопа.
Из теории дифракции и практической микроскопии известно, что разрешение ограниченно длинной волны используемого излучения.
3. Источник электронов: вольфрамовая нить, эмиттер из гексаборида лантана, полевой эмиссионный катод (острие), простой либо составной источник....
КАЛУЖСКИЙ ФИЛИАЛ МОСКОВСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО ТЕХНИЧЕСКОГО УНИВЕРСИТЕТА ИМЕНИ Н.И. БАУМАНА Р Е Ф Е Р А Т по НИРС ЛИТОГРАФИЯ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ В ...
4) микроскопический тест - при помощи сканирующего электронного микроскопа.
Из теории дифракции и практической микроскопии известно, что разрешение ограниченно длинной волны используемого излучения....
Эффект Оже. Оже-спектроскопия. Курсовая работа Выполнила: студентка гр. Ф - 31 Хомовненко Е. О. Астраханский Государственный Университет Кафедра ...
Электронные и ионные пучки легко фокусируются, их можно развернуть в растр по поверхности образца (сканирующие оже-спектрометры), что позволяет изучать распределение по поверхности ...
Основой такого комплекса является сканирующий (растровый) электронный микроскоп (РЭМ), в котором электронный пучок очень малого диаметра (несколько нанометров) передвигается в двух ... ...
Катод Спиндта — Реферат
Саратовский государственный университет Им. Н.Г.Чернышевского Курсовая работа Катод Спиндта. Кафедра Прикладной физики Научный руководитель: Мухамедов ...
... кремния с применением тонких металлических пленок, обладают техническими характеристиками, позволяющими их широкое применение в плоских дисплеях, сканирующих микроскопах и т.п.
... электроны преодолевают потенциальный барьер на поверхности тела не за счет кинетической энергии теплового движения, а путем специфического квантового явления - туннельного эффекта....
Углеродные нанотрубки: их свойства и применение Заметка знакомит читателя с удивительным миром нанотрубок - углеродных структур, открытых в 1991 году ...
Другой пример, когда нанотрубка является частью физического прибора - это "насаживание" ее на острие сканирующего туннельного или атомного силового микроскопа.
С помощью того же атомного микроскопа можно производить запись и считывание информации с матрицы, состоящей из атомов титана, лежащих на a-Al2O3 подложке....
Металлы — Реферат
... системы Д. И. Менделеева 82 элемента являются металлами. Все металлы являются кристаллическими телами, в которых атомы расположены закономерно и ...
Микроструктуру металлов наблюдают в оптическом металлографическом микроскопе, в котором изучаемый объект рассматривается в отраженном свете в настоящее время применяется прямой ...
Один из методов электронной микроскопии это есть наблюдение диффектов кристаллической структуры.
Исследуя полученную реплику, можно наблюдать детали структуры, минимальный размер которых равен 2 -5 нм....
ОРЕНБУРГСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ПЕДАГОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ КУРСОВАЯ РАБОТА ПО ТЕМЕ "Полимерные электреты, их свойства и применение". Выполнил: Гавренков ...
Специальное устройство позволяет передвигать зонд вдоль поверхности образца, сканируя распределение потенциала.
Зонд окружают заземленным охранным электродом, который позволяет сделать поле в области расположения зонда примерно однородным (без него силовые линии "сгущались" бы на зонде ... ...
©2007—2016 Пуск!by | По вопросам сотрудничества обращайтесь в contextus@mail.ru